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原位電學(xué)測量樣品桿

【產(chǎn)品概述】PicoFemto系列透射電鏡原位測量系統源于中科院物理研究所SF1組(20世紀90年代),圍繞原位電學(xué)測量樣品桿,澤攸科技不斷進(jìn)行產(chǎn)品迭代及功能拓展,已推出電、力、光、熱、低溫等多種原位功能樣品桿,產(chǎn)品覆蓋國內原位電鏡市場(chǎng)的同時(shí)也遠銷(xiāo)美國、英國、德國及澳大利亞科研市場(chǎng)。

  • 產(chǎn)品型號:Zeus
  • 更新時(shí)間:2024-06-19
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:3859
  • 廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家

產(chǎn)品詳情

    PicoFemto系列透射電子顯微鏡原位電學(xué)測量樣品桿是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過(guò)探針對單個(gè)納米結構進(jìn)行操縱和電學(xué)測量,并在電學(xué)測量的同時(shí),動(dòng)態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結構、化學(xué)組分、元素價(jià)態(tài)進(jìn)行綜合表征,大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領(lǐng)域。

    技術(shù)指標

電學(xué)測量 力學(xué)操縱
1.包含一個(gè)電流電壓測試單元; 1.探針粗細調方式:全軟件操控;
2.電流測量范圍:1nA-30mA; 2.粗調范圍:XY方向2.5mm,Z方向1.5mm;
3.電流分辨率:100fA; 3.細調范圍:XY方向18um,Z方向1.5um;
4.電壓輸出范圍:±10V,±150V; 4.細調分辨率:XY方向0.4nm,Z方向0.04nm;
5.軟件自動(dòng)測量:I-V、I-t  

    產(chǎn)品選型

    原位電學(xué)測量樣品桿具有單傾、雙傾兩個(gè)版本,用戶(hù)可根據實(shí)驗需求自行選擇。

    澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI(賽默飛)、JEOL(日本電子)、Hitachi(日立)各型號透射電子顯微鏡及極靴的不同型號樣品桿,同時(shí)保證透射電鏡原有分辨率。

    國內部分用戶(hù)

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鄭州大學(xué).png浙江大學(xué).png云南大學(xué).jpg燕山大學(xué).jpg武漢理工大學(xué).jpg武漢大學(xué).jpg

廣西大學(xué).jpg華南理工大學(xué).jpg華中科技大學(xué).jpg上??萍即髮W(xué).png天津大學(xué).jpg637807346637977600978.png

     典型案例

    1、透射電鏡內的原位電學(xué)實(shí)驗;

    2、透射電鏡內的原位壓縮、拉伸實(shí)驗。


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